密度泛函理論作用（密度泛函理論簡介）
本文源自:金融界金融界2025年8月18日消息，密度密度國家知識產權局信息顯示，泛函泛函中國科學院合肥物質科學研究院、理論理論山東智微檢測科技有限公司申請一項名為“一種基于密度泛函理論結構優化的作用表面增強拉曼光譜理論模擬方法”的專利，公開號CN120496682A，簡介申請日期為2025年05月。密度密度
專利摘要顯示，泛函泛函本發明屬于SERS譜圖解析技術領域，理論理論尤其是作用一種基于密度泛函理論結構優化的表面增強拉曼光譜理論模擬方法本發明包括如下步驟：S1、Materials Studio建模；S2、簡介VASP優化：使用VASP對模型進行結構優化，密度密度其中離子弛豫過程中采用共軛梯度法進行結構優化；S3、泛函泛函Gaussian計算：基于密度泛函理論，理論理論使用Gaussian對光譜進行解析操作，作用得到光譜文件。簡介